Contami Analyzer 異物篩檢系統

型號 : Contami Analyzer

廠牌 : Mitani

Contami Analyzer 是日本Mitani公司開發的整合性粒子缺陷量測分析系統,目的是計算統計缺陷粒子顆粒。例如晶圓清洗後表面粒子殘留數量,清洗液經過膜濾器過濾後表面殘留顆粒數量。

產品說明

Contami Analyzer異物篩檢系統是利用圖像處理方法,構建外觀檢查系統。例如構建能夠通過目視和自動檢查,分析圓晶上的蝕刻圖形的寬度和高度,識別異物等,進行合格與否判定的系統。可在廣泛的行業中應用,例如半導體晶圓、玻璃基板異物檢查、化學品過濾器的殘渣檢查、汽車零部件清洗時的膜過濾器檢查(ISO16232標準規範)等。

支援光學顯微鏡、數位顯微鏡、實體顯微鏡、微距鏡頭等,可選擇適合觀察處理顆粒的攝影方法。

在圓晶以(或)過濾器表面的圖形、缺陷、異物的檢查中重視檢查精度
正在探討減少作業人員的誤差、自動化檢查系統
被迫以觀察顯微鏡的固定姿勢長時間作業
進行目視檢查時,不知道檢查過哪些地方
希望利用原有設備來擴充,降低建置成本

特色

  • 快速檢查:僅用約1分鐘即可對直徑47mm的圓形過濾器進行掃描處理。
  • 自動修補照明不均:根據攝影環境,消除因照明或鏡頭像差等導致的亮度不均現象,確保檢查之正確。
  • 複查功能:單擊影像即可顯示檢查圖像,亦可將載物台移動到檢查位置。
  • 通過目視檢查更放心:在複查中發現到錯誤檢查判定的圖像及顆粒等,可以用目視來確認。
  • Excel®報表輸出:檢查結果可以輸出到微軟公司Excel®中。
  • 統計計算:抽取的顆粒,可以根據顆粒尺寸等自動創建、顯示統計數據

規格

Contami Analyzer 異物篩檢系統
數位顯微鏡
CCD 1/1.8型CCD
有效像素 1628×1236
光源 LED燈
照明 同軸反射方式/環形方式(透射方式為選購件)
調節功能 快門、白平衡、增益
電動XY載物台
移動量 X・Y軸: ±50 mm
移動解析度 X・Y軸:±2 μm
重複定位精度 X・Y軸:±1 μm
專用PC 作業系統: Windows10;內建:4GB;HDD:1TB以上;
21英寸LCD Monitor
本規格會依客戶實際需求變更