光學特性評價NH-3MAs
廠牌 : 三鷹光器
日本三鷹光器公司生產非接觸式點雷射聚焦表面輪廓量測儀NH-3MAs，評價鏡片光學特性，例如Micro Lens Array 前焦點位置，後焦點位置，光形3D輪廓，球像差量測，MTF。
產品說明
採用點雷射自動聚焦方式（符合ISO25178-605 Point Autofocus Probe量測原理），雷射聚焦樣品表面掃描，當使用x100物鏡聚焦樣品表面時雷射光點尺寸(Spot size)φ1um，可量測微結構表面形貌。
NH-3MAs 除了掃描式表面輪廓儀功能外，還有光學特性評價機能，例如Micro Lens Array焦點位置評價、形變、光形輪廓、MTF…等，多種倍率量測物鏡選擇及電動鼻輪切換倍率，可拍照記錄量測位置，方便觀察並標示出量測位置是否有缺陷。
量程X/Y/Z為100/100/10mm且三軸都用光學尺解析，樣品放置空間X/Y/Z為100/100/100mm，適合12KgW以下載重各種樣品量測需求，量測機可改造。獨特AF功能可偵測樣品球心、邊際、圓徑、溝寬。 MACRO量測軟體達到自動化量測需求。
特色
- 適合量測材料：鑽石、透明、液態膠狀、石墨黑、陶瓷白…等表面輪廓
- 一次量測樣品同時解析幾何輪廓與表面粗度數據
- 適合量測工件：Micro Lens Array 光學特性評價（如前焦點位置座標、背焦點位置座標、球相差…）、魚眼鏡、柱狀鏡、CCD晶片鏡片、投影機MLA
- 標準分析軟體：2D/3D輪廓及粗度分析、平面度分析
- 選購分析軟體：前焦點位置、背焦點位置、焦點深度、光斑強度、形變相差、MTF、非球面評價軟體
規格
| X軸 | Y軸 | AF(Z1)軸 （量測用） |
Z2軸 （定位用） |
||
| 量測距離 | 100mm | 100mm | 10mm | 100mm | |
| 定位分辨率 | 0.1µm | 0.1µm | 0.01µm | 0.1µm | |
| 尺 | 光學尺 | 光學尺 | 光學尺 | 脈衝 | |
| 精度 | (2+4L/1000) µm | (2+4L/1000) µm | (0.3+0.5L/10) µm | (3+L/10) µm | |
| 顯微鏡光學系統 | 光學系統 | 無限遠聚焦光學 f = 180mm | |||
| 雷射聚焦尺寸(Spot) | Ø 1µm(100X NA=0.8 WD=3.4mm)、 Ø 2µm(50X NA=0.5 WD=10.6mm)、 Ø 4µm(20X NA=0.4 WD=12mm)、 Ø 15µm(10X NA=0.3 WD=11mm) |
||||
| 鼻輪 | 馬達控制 | ||||
| 自動對焦 | 重現性 | σ=0.03µm（鏡面（樣品）表面） 使用100X | |||
| 雷射規格 | 半導體雷射(O/P: 1mW Max λ : 635nm class 2) | ||||
| 載物台 | XY平台尺寸 | 244x240mm | |||
| 最大樣品高度 | 105mm | ||||
| 最大樣品重量 | 12kg | ||||
| 其他 | 儀器尺寸 | 1550x900x1400 mm | |||
| 避震器 | 氣浮式（空氣壓力：5kgf/cm2） | ||||
| 儀器重量 | 210kg | ||||
| 消費電力 | 700W (100V 7A) | ||||
| AF軸（選購） | 15mm、20mm | ||||
| Z2軸（選購） | 光學尺精度 (2+3L/100) um | ||||
微透鏡陣列光學特性評價
NH-3MAs 除了具備表面掃描量測功能外，還有微透鏡陣列Micro Lens Array 光學特性量測，NH-3MAs 光學特性評價有下述功能
a) 有效焦點深度
b) 背焦點距離
c) 雷射光斑形貌
d) 焦點位置座標
e) 像差失真
f) MTF
MLA 3D輪廓掃描與2D斷面輪廓評價
光學特性評價範例
MLA焦點位置偏移
MLA透過率分佈
產品說明
採用點雷射自動聚焦方式（符合ISO25178-605 Point Autofocus Probe量測原理），雷射聚焦樣品表面掃描，當使用x100物鏡聚焦樣品表面時雷射光點尺寸(Spot size)φ1um，可量測微結構表面形貌。
NH-3MAs 除了掃描式表面輪廓儀功能外，還有光學特性評價機能，例如Micro Lens Array焦點位置評價、形變、光形輪廓、MTF…等，多種倍率量測物鏡選擇及電動鼻輪切換倍率，可拍照記錄量測位置，方便觀察並標示出量測位置是否有缺陷。
量程X/Y/Z為100/100/10mm且三軸都用光學尺解析，樣品放置空間X/Y/Z為100/100/100mm，適合12KgW以下載重各種樣品量測需求，量測機可改造。獨特AF功能可偵測樣品球心、邊際、圓徑、溝寬。 MACRO量測軟體達到自動化量測需求。
特色
- 適合量測材料：鑽石、透明、液態膠狀、石墨黑、陶瓷白…等表面輪廓
- 一次量測樣品同時解析幾何輪廓與表面粗度數據
- 適合量測工件：Micro Lens Array 光學特性評價（如前焦點位置座標、背焦點位置座標、球相差…）、魚眼鏡、柱狀鏡、CCD晶片鏡片、投影機MLA
- 標準分析軟體：2D/3D輪廓及粗度分析、平面度分析
- 選購分析軟體：前焦點位置、背焦點位置、焦點深度、光斑強度、形變相差、MTF、非球面評價軟體
規格
| X軸 | Y軸 | AF(Z1)軸 （量測用） |
Z2軸 （定位用） |
||
| 量測距離 | 100mm | 100mm | 10mm | 100mm | |
| 定位分辨率 | 0.1µm | 0.1µm | 0.01µm | 0.1µm | |
| 尺 | 光學尺 | 光學尺 | 光學尺 | 脈衝 | |
| 精度 | (2+4L/1000) µm | (2+4L/1000) µm | (0.3+0.5L/10) µm | (3+L/10) µm | |
| 顯微鏡光學系統 | 光學系統 | 無限遠聚焦光學 f = 180mm | |||
| 雷射聚焦尺寸(Spot) | Ø 1µm(100X NA=0.8 WD=3.4mm)、 Ø 2µm(50X NA=0.5 WD=10.6mm)、 Ø 4µm(20X NA=0.4 WD=12mm)、 Ø 15µm(10X NA=0.3 WD=11mm) |
||||
| 鼻輪 | 馬達控制 | ||||
| 自動對焦 | 重現性 | σ=0.03µm（鏡面（樣品）表面） 使用100X | |||
| 雷射規格 | 半導體雷射(O/P: 1mW Max λ : 635nm class 2) | ||||
| 載物台 | XY平台尺寸 | 244x240mm | |||
| 最大樣品高度 | 105mm | ||||
| 最大樣品重量 | 12kg | ||||
| 其他 | 儀器尺寸 | 1550x900x1400 mm | |||
| 避震器 | 氣浮式（空氣壓力：5kgf/cm2） | ||||
| 儀器重量 | 210kg | ||||
| 消費電力 | 700W (100V 7A) | ||||
| AF軸（選購） | 15mm、20mm | ||||
| Z2軸（選購） | 光學尺精度 (2+3L/100) um | ||||