材料熱擴散率測試儀 TA-35

型號 : TA-35
材料熱擴散率測試儀 TA-35
材料熱擴散率測試儀 TA-35

廠牌 : BETHEL

日本BETHEL公司開發材料熱擴散率測試儀TA-35，可以量測樣品水平方向與垂直方向熱擴散率，被測樣品從高導熱單晶鑽石到低導熱PI材料都可測試，樣品製作無需特殊治具與工法，樣品形狀除了需是平面外也無其他限制。

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產品說明

材料熱物性研究中，熱傳導率、熱擴散率、熱浸透率是可以藉由計算公式互相帶算出來的。例如：當量測到熱擴散率數值時，若已知材料的密度便可帶算出熱傳導率，若已知材料的比熱容便可帶算出熱浸透率。

Bethel公司的熱波分析儀採用點雷射方法對樣品做周期性加熱，使得樣品表面形成熱波，並用輻射溫度計測得熱波，屬於非接觸是量測方式，此方式已在2018年獲得JIS R7240標準規範。

TA-35對於材料熱擴散的量測，可量測垂直Z方向、水平XY方向熱擴散，使用點雷射加熱方式，可以對樣品做小面積掃描量測，以幫助分析面積範圍內材料熱擴散均一性。

手機等晶片需要石墨稀散熱材料提高散熱效能，TA-35已獲得手機大廠認可做為石墨稀散熱片熱擴散測試基準。

特色

  • 非接觸式雷射對樣品加溫方式，量測材料水平及垂直方向熱擴散。
  • 無需專用治具，樣品厚度均一即可，形狀大小精度無限制。
  • 樣品可連續掃描，數據可整合成3D MAP，方便判讀材料熱擴散均一性。
  • 樣品厚度最薄數十um就可測試，測試材料從低導熱PI材料到高導熱單晶鑽石皆可測試。

規格

材料熱擴散率測試儀TA-35
量測功能 材料熱擴散率
量測範圍 0.1 ~ 1,000 [ x10-6m2s-1]
輸出數據 頻率、距離、振幅、相位、厚度 [TXT格式]
量測模式 面內、面外、分布
雷射加熱器 波長808nm、1.5W
輻射溫度計 元素InSb
降溫方式 液態氮降溫
量測溫度 常溫
量測頻率 0.01 Hz ~ 100 kHz
高溫量測 RT ~ 300℃ 選配
測試樣品尺寸 10 x 10 x 0.015 ~ 100 x 100 x 2 mm
樣品載台規格 XY ±10mm
偵測載台規格 XY ±5mm
主機尺寸 約56 cm W x 74 cm D x 69 cm H
重量 約 90 公斤
電源 100 VAC – 240 VAC，50/60 Hz 自動切換通用輸入，最大 5 A
操作環境 溫度20 ~ 35℃ 濕度20~80% RH
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